輔助設備對測試數據的影響案例

在EMC測試小技巧之輔助設備如何挑選文章里，我們提到輔助設備對測試的影響，下面我們實(shí)際來(lái)看看兩個(gè)案例：1. 汽車(chē)電子產(chǎn)品，某車(chē)載導航測電磁傳導發(fā)射(CE02) Conducted Emission（CE02）傳導電流法50mm 位置，U盤(pán)播放音樂(lè )模式，數據對比。
隨著(zhù)電子科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品的功能越來(lái)越復雜，運行的速度更是突飛猛進(jìn)，模塊與模塊之間的距離更近了。從我們的電磁兼容的角度來(lái)看，當其中有一個(gè)模塊產(chǎn)生干擾時(shí)有可能對其他模塊造成干擾，導致電磁環(huán)境的不平衡。也許我們只想知道模塊與模塊之間是怎么干擾的，如果要分析是怎么干擾的，我們當然還是離不開(kāi)電磁兼容的三要素干擾源、耦合路徑、敏感設備。例如我們的手機的電源模塊干擾到我的攝像頭，那么根據這個(gè)現象我們可以確定干擾源是電源模塊，敏感設備是攝像頭，耦合路徑可分為線(xiàn)纜的傳導干擾、空間的耦合干擾，線(xiàn)纜的傳導干擾我們可以在靠近干擾源端安裝濾波器，空間的耦合我們可以將干擾源屏蔽掉，切斷噪聲在空氣中傳播的路徑。那么如何屏蔽才能達到至.好.的.效果呢？

1號普通塑料U盤(pán)

2號閃迪金屬U盤(pán)

可以看到72MHz、96MHz超標頻點(diǎn)更換U盤(pán)后數據測試OK，找到問(wèn)題固然是很好的，但是這其中需要花費不少測試時(shí)間，對于整體的進(jìn)度會(huì )有很大影響（尤其針對項目緊急的案子）下面可以看到從開(kāi)始測試發(fā)現問(wèn)題到找出U盤(pán)問(wèn)題用了兩個(gè)小時(shí)：

這是由于機器是第二版本，有之前的數據進(jìn)行對比，還有之前版本的EUT做參照，才能快速定位問(wèn)題，如果只有一臺機器，那相應的排查時(shí)間可能還會(huì )更長(cháng)。所以一般推薦摸底測試多準備幾臺樣機備用，有備無(wú)患以應對突發(fā)情況，提高效率。

有的朋友可能會(huì )問(wèn)排查一個(gè)U盤(pán)問(wèn)題為什么會(huì )用兩個(gè)小時(shí)，其實(shí)這種是比較常見(jiàn)的。主要影響原因有：

1. 測試人員對當前機器的軟硬件是否*熟悉，能快速定位超標頻點(diǎn)跟機器的關(guān)聯(lián)點(diǎn)；

2. 設備拆裝復雜程度，裝配越復雜驗證一次的時(shí)間周期越長(cháng)，所以驗證問(wèn)題時(shí)可選擇裸板驗證（首先要先排除裝配結構對測試結果的影響）；

3. 樣機線(xiàn)纜的數量以及樣機模塊的數量，驗證起來(lái)時(shí)間花費比較多；

4. 樣機測試狀態(tài)，并不是所有機器都是上電就是測試模式，需要進(jìn)行開(kāi)機，調整到測試模式并確定該模式可以穩定運行（排除整改措施對測試狀態(tài)的影響，確認測試完成后模式狀態(tài)未改變）。

總結為一點(diǎn)，針對EMC測試相關(guān)的輔助設備一定要謹慎選擇，避免對實(shí)驗結果造成錯誤導向，不僅浪費時(shí)間，還會(huì )大大影響項目進(jìn)度，最重要的是對于整改人員帶來(lái)很大的精神壓力。