一種測量線(xiàn)纜屏蔽層好壞的高效辦法

我們將介紹如何使用靜電發(fā)生器，電流鉗和示波器，快速測量線(xiàn)纜屏蔽質(zhì)量的好壞。

圖1.ESD信號發(fā)生器對屏蔽線(xiàn)纜屏蔽層放電

圖1顯示了，靜電發(fā)生器直接注入ESD信號到同軸電纜的屏蔽層上。當靜電放電，電流流過(guò)電纜屏蔽層時(shí)，一些不希望出現的ESD“信號”會(huì )通過(guò)屏蔽層和連接器中的缺陷泄漏出去。泄露量的多少與屏蔽層阻抗和高頻特性有直接關(guān)系。

IEC 61000-4-2 ESD信號發(fā)生器的電流波形包含高頻和低頻分量，可參考圖2。高頻分量包含在波形的上升沿中（上升時(shí)間小于1納秒），而上升時(shí)間后半段的幾十納秒波形中包含了低頻分量。波形的高頻和低頻分量可用于快速確定電纜屏蔽層在較寬的頻率范圍內的屏蔽效果。

 圖2. IEC 61000-4-2中ESD的電流波形

 圖3顯示了測試布置的測量端。測試電纜端接到示波器。電流探頭用于測量屏蔽層上流過(guò)的ESD電流，電流探頭另一端連接到示波器的輸入端。

 圖3.接收端電流探頭和示波器

圖4顯示了，屏蔽層較差的同軸電纜的測試情況。靜電發(fā)生器設置輸出電壓為500V。紅色的測試波形顯示，ESD電流波達到1A，且初始上升沿電壓接近7V，由于高頻阻抗較大的原因，當ESD電流在經(jīng)過(guò)屏蔽層的時(shí)候，產(chǎn)生加大的壓降，上升沿電壓值體現了此屏蔽線(xiàn)高頻特性較差。此外從測試波形看，低頻部分幾十納秒的時(shí)間里，電壓幅值也偏高，這表明電纜屏蔽層在較低的頻率下具有明顯的阻抗。

圖4測試波形對應的電纜是便宜的同軸電纜，帶有金屬化聚脂薄膜的屏蔽層，在金屬箔的周?chē)挥袔赘浅＜毜钠帘尉€(xiàn)。

 圖4.高阻抗屏蔽電纜電壓和電流波形

 圖5顯示了高質(zhì)量屏蔽的50Ω同軸電纜（雙層屏蔽，屏蔽層編織線(xiàn)稠密）的測試結果。電壓峰值僅為200 mV。另外，電壓響應的低頻分量很小，這表明屏蔽層的阻抗很低。

 總結：將ESD信號發(fā)生器輸出應用于電纜屏蔽層，可以快速了解屏蔽層的好壞。并能從測量波形中看出屏蔽層阻抗的大小和高頻特性的好壞。